加入收藏 在線留言 聯系我們
          關注微信
          手機掃一掃 立刻聯系商家
          全國服務熱線13620111183

          民用和工業用清洗劑 配方還原 未知物成分析 成分檢測、成分剖析、工業診斷分析

          更新時間
          2024-11-22 08:15:00
          價格
          5000元 / 個
          報告用途
          配方還原、成分剖析
          樣品量
          500毫升
          檢測周期
          30個工作日
          聯系電話
          15915704209
          聯系手機
          13620111183
          聯系人
          李工
          立即詢價

          詳細介紹

          3293619086.jpg

          未知物成分分析是通過綜合的分離和分析手段對復雜的未知化學品的成分進行定性和定量分析,為科研、產品生產、產品開發、改進生產工藝提供科學依據,為企業引進、消化吸收再創新提供強大技術支撐。

          未知物成分分析覆蓋電子、紡織、日化、塑料、橡膠等各個領域,具體包括:

          ? 助劑產品:紡織、皮革助劑(柔軟劑、勻染劑、整理劑等);電鍍(鋅、銅、鉻、鎳、貴重金屬)助劑(前處理添加劑、光亮劑、輔助光亮劑等);塑料和橡膠制品助劑(增塑劑、抗氧劑、阻燃劑、光和熱穩定劑、發泡劑、填充劑、抗靜電劑等);涂料助劑(乳化劑、潤濕分散劑、消泡劑、阻燃劑等);線路板制造化學品助劑;電子助焊劑;陶瓷助劑;鋁合金表面處理助劑;其它精細化工助劑

          ? 油墨產品:墨水,感光油墨等

          ? 化妝品:洗發、護發用品、護膚用品、美容用品、口腔衛生制品等

          ? 香精、香料

          ? 表面活性劑、民用和工業用清洗劑

          ? 有機溶劑: 油漆稀釋劑,天那水,脫漆劑,電子、紡織、印刷行業用溶劑

          ? 水處理劑:緩蝕劑、混凝劑和絮凝劑、阻垢劑等

          ? 石油化學品:潤滑油,切削液等

          ? 氣霧劑、光亮劑、殺蟲劑、脫模劑、致冷劑、空氣清新劑等

          ? 高分子材料

          ? 其它化工產品

          工業診斷分析是指通過樣品或生產過程中微量污染物的鑒定,來查找工業生產過程中的質量事故原因的方法。工業診斷分析需要綜合運用各類常量、微量和痕量檢測技術,主要成分與雜質成分鑒定并舉,有機分析與無機分析并重,成分分析與生產工藝流程分析結合,尤其是對檢測結果的分析和綜合判斷能力要求很高,才能對產品質量事故原因進行分析診斷。

          工業診斷分析業務已涉及精細化工、醫療制品及臨床、造紙、電鍍、精密儀器制造、汽車生產等工業領域。













































          行業資訊:


          電氣電子產品行業:針對ROHS六種有害物質檢測,主要包括:白家電,如電冰箱、洗衣機、微波爐、空調、吸塵器、熱水器等;黑家電,如音頻、視頻產品、DVD、CD、電視接收機、IT產品、數碼產品、通信產品等;電動工具,電動電子玩具、醫療電氣設備等。

          食品行業:食品中重金屬濃度分析。

          考古學:古物年代鑒定。

          藝術品修復:顏料中金屬成分分析。


          發展歷程

          編輯 播報


          歷程介紹

          自1895 年德國物理學家倫琴(Renten W C)發現了 X 射線。1896年法國物理學家喬治(G eorgs S)發現了X 射線熒光,1948年弗利德曼(Friedm an H )和伯克斯(]3irks L S)首先研制了臺商品性的波長色散 X 射線熒光光譜儀以來,X 射線熒光光譜分析技術發展迅速。 [1]  尤其是 2O 世紀 9O 年代以來。隨著電子技術和計算機的飛速發展,x 射線熒光光譜儀和X 射線熒光分析技術及其計算機軟件的不斷開發,X 射線熒光光譜儀現已由單一的波長色散 X 射線熒光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜儀等一大家族。 [1] 


          國產化之路

          我國X射線熒光光譜分析技術的建立始于20世紀50年代末和60年代初,80、90年代,我國學者為滿足生產和科研工作的需要,引進了眾多的X射線熒光光譜儀,制定了大量行之有效的試樣分析方法,國內外學術交流不斷增多,有利地推動了我國X熒光光譜分析的發展。 [1] 

          儀器國產化,也是各方關注的問題,早在1959年中科院地質研究所曾試制成功代單光路的平面晶體X射線熒光光譜儀。從1971年起,上海電子光學研究所等單位先后研制了兩種類型多道X射線熒光光譜儀。一是DXY1~DXY3等三種型號的全真空多光路X射線熒光分析儀,另一種是多光路全聚焦式X射線熒光分析儀。


          相關產品

          聯系方式

          • 電  話:15915704209
          • 工程師:李工
          • 手  機:13620111183
          • 微  信:A15915704209